En este video se discute un disen~o IMC para un proceso
de
segundo orden poco amortiguado. Primero se discute el disen~o en tiempo
contínuo (idéntico al del vídeo [imcdt1]) y a continuación se plantea el objetivo de
control: obtener unas prestaciones similares en tiempo discreto.
La primera opción sería discretizar adecuadamente el disen~o contínuo;
esto se ha hecho en el vídeo [imcdt1], y para períodos pequen~os podría ser una
solución perfectamente válida. .
En el presente material se operará directamente en tiempo discreto: se discretiza
el modelo de referencia y, a partir del modelo discreto ZOH del proceso se obtiene el
parámetro
del IMC. Se propone como razonable un período de muestreo
segundos,
comparando con otras opciones (en discretización de disen~o contínuo se optó por
recomendar ,
suponiendo que no existen perturbaciones de frecuencia mayor que requieran
aumentar la frecuencia de muestreo).
Una vez elegido ,
se argumenta que conviene observar los ceros de muestreo en el modelo de la
planta a controlar... si están cerca del círculo unidad y se cancelan entonces se
producirá un polo cerca del círculo unidad en el controlador, que dará
oscilaciones poco recomendables (la idea es similar a la discutida en el vídeo [imcnova]) .
Por eso se construye un factor de corrección sobre el modelo de referencia
para mantener los ceros de muestreo de la planta ”original” a controlar
y no incluir los ceros de muestreo del modelo de referencia del disen~o
contínuo.
El vídeo [cancobsctr] presenta un análisis más detallado de los inconvenientes por
cancelar polos y ceros cerca del círculo unidad, y su relación con los conceptos
de controlabilidad y observabilidad en espacio de estados.
Tras el disen~o, se simula, en tiempo discreto (no se hace simulación
intermuestreo, que requeriría ejecutar el comando sdlsim, ver vídeo [sdlsim2]) el
disen~o, tanto ante escalones de referencia, como de perturbación a la
entrada (que en IMC puede dar problemas). También se representa la
respuesta en frecuencia de bucle cerrado y se prueban varios períodos de
muestreo.